鏡片反射比測(cè)量裝置（進(jìn)階版）

簡(jiǎn)要描述：ST-20R 鏡片反射比測(cè)量裝置（進(jìn)階版）是一臺(tái)專業(yè)用于測(cè)試鍍有減反膜鏡片的精密光學(xué)儀器，采用雙光束光路系統(tǒng)，測(cè)量更加準(zhǔn)確穩(wěn)定。可*國(guó)標(biāo)GB10810.4等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于對(duì)減反膜鏡片光譜反射比、光反射比、平均反射比、膜層均勻性等相關(guān)參數(shù)的測(cè)量要求。

產(chǎn)品型號(hào)：ST-20R
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2020-07-29
訪問(wèn) 量：3274

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詳細(xì)介紹

ST-20R 鏡片反射比測(cè)量裝置采用中文人機(jī)對(duì)話的操作方式，簡(jiǎn)便易學(xué)。大屏幕液晶顯示屏上的菜單對(duì)每一個(gè)對(duì)應(yīng)的操作步驟進(jìn)行選擇和認(rèn)可，即能完成你所需的功能。該儀器燈源的更換一改過(guò)去國(guó)產(chǎn)儀器繁瑣的方法，整個(gè)燈源的更換操作，用戶只需旋動(dòng)幾個(gè)螺絲即可完成，無(wú)需進(jìn)行繁瑣的對(duì)光調(diào)整即能保證燈源處于原來(lái)的合適位置。

ST-20R 儀器的軟件程序設(shè)計(jì)具有自動(dòng)保護(hù)功能，確保儀器在萬(wàn)一操作失誤時(shí)仍能及時(shí)恢復(fù)正常工作。由于儀器內(nèi)藏式微處理機(jī)系統(tǒng)的*作用，加上優(yōu)良的光學(xué)、電路系統(tǒng)和合理的機(jī)械結(jié)構(gòu)，并采用大屏幕液晶顯示，將為各行業(yè)實(shí)驗(yàn)室的分析測(cè)試工作提供十分有效而直觀的手段。

產(chǎn)品特點(diǎn)

1. 鏡片反射比測(cè)量裝置具有良好的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和精密的雙光束光學(xué)系統(tǒng)，儀器準(zhǔn)確度、重現(xiàn)性、雜光指標(biāo)良好，測(cè)量簡(jiǎn)單快速，質(zhì)量穩(wěn)定可靠，電源電壓范圍寬。

2. 鏡片反射比測(cè)量裝置的關(guān)鍵部件均選用進(jìn)口器件，濱松無(wú)臭氧環(huán)保型氘燈，德國(guó)歐士朗鎢燈，美國(guó)派來(lái)茲?rùn)z測(cè)器。保證了儀器性能的高可靠性。

3. 鏡片反射比測(cè)量裝置具有開放式的樣品室設(shè)計(jì)，通過(guò)樣品架可非常方便地測(cè)試鏡片的反射率。

主要技術(shù)指標(biāo)

波長(zhǎng)范圍：	190nm～1100nm
波長(zhǎng)大允許誤差：	±0.3nm
波長(zhǎng)重復(fù)性：	≤0.2nm
透射比測(cè)量范圍：	0～999%
吸光度測(cè)量范圍：	-4.000～4.000A
透射比大允許誤差：	±0.3% ±0.002Abs（0.5Abs處）、 ±0.004Abs（1.0Abs處）、 ±0.006Abs（2.0Abs處）
透射比重復(fù)性：	≤0.15% ±0.001Abs（0.5Abs）、±0.002Abs（1.0Abs）
漂移：	≤0.0004A/h（開機(jī)1小時(shí)后，500nm處）
基線平直性：	±0.001A
雜散光：	≤0.05% （220nm NaI溶液，360nm NaNO2）
噪聲：	100%線噪聲≤0.2%；0% 線噪聲≤0.1%
掃描速度：	波長(zhǎng)移動(dòng)：約3000nm/min，波長(zhǎng)掃描：24nm/min-1400nm/min
小光譜帶寬：	3.0nm